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地質(zhì)勘探光譜分析儀

簡要描述:地質(zhì)勘探光譜分析儀:用于地質(zhì)調(diào)查、礦產(chǎn)普查與勘探、工程地質(zhì)、巖土工程過程中巖石礦物元素分析。

  • 產(chǎn)品型號:VANTA系列
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-06-03
  • 訪  問  量:1727

詳細介紹

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地質(zhì)勘探光譜分析儀-通過便攜式XRF分析儀獲得的數(shù)據(jù)完成地質(zhì)測井

在地質(zhì)測井工作中,地球科學家通過肉眼觀察,將包含土壤、鉆屑、石塊和鉆芯在內(nèi)的不同樣本的巖石類型、蝕變情況、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其它特征記錄下來。地球科學家一般使用測井圖表(地質(zhì)編錄)將所觀察到的特征或順磁特性記錄下來,其中包括:顏色、粒徑大小、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造走向、層理、蝕變、質(zhì)變和橫切。

地質(zhì)測井能力是地球科學家經(jīng)過對巖石和礦床的采集樣本進行多年的理論研究后,再經(jīng)過多年在原地或使用鉆屑樣本對巖石的地質(zhì)特性進行野外觀察而獲得的一項基本技能。只有這樣,地球科學家才可以具備開展詳細深入的野外測井工作的資格,以在范圍內(nèi)研究地質(zhì)方面的復(fù)雜性和多樣性。因此,在礦產(chǎn)勘探業(yè)中人們經(jīng)常會說:“見到最多巖石的地質(zhì)學家,為勝者!"
便攜式XRF技術(shù)以及其它分析技術(shù)正在改變我們?nèi)粘氖碌默F(xiàn)代化測井的方式。向地理信息系統(tǒng)(GIS)、地質(zhì)信息管理系統(tǒng)(GIMS),以及3維可視化和建模軟件包實時傳送客觀測井信息的技術(shù),使采礦行業(yè)獲得了革命性的發(fā)展。

Vanta便攜式分析儀所獲得的數(shù)據(jù)有助于辨別巖石的類型并完成蝕變測井。


視覺測井具有主觀性

視覺地質(zhì)測井的主要問題是每個地球科學家對于所看到的巖石都有他們自己的經(jīng)驗、觀點和想法。如果把多個地球科學家針對某個特定項目得到的數(shù)據(jù)綜合在一起,則會使情況變得非常復(fù)雜。圖1說明了視覺觀察的主觀性,圖中顯示了8個地球科學家針對同一個巖石層序所提供的測井數(shù)據(jù)。圖中有7個不同的結(jié)果(第6個或第7個地球科學家復(fù)制了對方的結(jié)果)。
圖1.擁有不同經(jīng)驗的8個地質(zhì)學家觀察同一個巖石層序所獲得的結(jié)果。
在原始地質(zhì)測井完成后的很長時間后,才會收到來自實驗室的試驗數(shù)據(jù),從而會造成測井觀察與地球化學數(shù)據(jù)互相參照及驗證之間的根本脫節(jié)。而且還會導(dǎo)致在現(xiàn)場做出錯誤的或延誤的決定(繼續(xù)深鉆或停止鉆探),并使整個鉆井團隊處于待工狀態(tài),或者遷移到其它地區(qū)。幾乎可以實時提供地球化學數(shù)據(jù),正是便攜式XRF技術(shù)的重要價值所在。

使用Vanta便攜式XRF分析儀進行地質(zhì)測井有很多優(yōu)勢特性,如果再使用TERRA便攜式X射線衍射分析儀,則可以獲得更多的優(yōu)勢特性:

  • 來自不同地點或鉆孔的客觀數(shù)據(jù)可以無縫關(guān)聯(lián)在一起

  • 有助于巖石的歸類和識別

  • 可使地球科學家將巖性觀察與地球化學信息聯(lián)系起來

  • 適時做出有價值的決定(停止鉆孔或繼續(xù)深鉆)

  • 巖石地球化學數(shù)據(jù)和智能多元地球化學數(shù)據(jù)可用于識別巖石單元、蝕變、結(jié)構(gòu)控制和巖性邊界

  • 將數(shù)據(jù)集成到算法中,甚至可以將數(shù)據(jù)集成到機器學習的例程中,以使工作流程自動化

  • 便攜式XRD技術(shù)所提供的定量性礦物學數(shù)據(jù),與便攜式XRF數(shù)據(jù)相得益彰

  • 可以立即提供和處理數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)繪制成圖并顯示出來

  • 在世界各地都可以在線觀察數(shù)據(jù)


便攜式XRF技術(shù)與其它分析技術(shù)一樣,在進行適當?shù)膽?yīng)用時,不僅需要使用樣本,并以正確的方式準備樣本,而且還需要質(zhì)量保證/質(zhì)量控制,并使用與常規(guī)實驗室保管數(shù)據(jù)相同的保管鏈方式保管數(shù)據(jù)。

圖使用小波變換曲面細分技術(shù)顯示來自澳大利亞南部Brukunga井下樣本的鐵元素的便攜式XRF數(shù)據(jù)。

地質(zhì)勘探光譜分析儀


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